西安高新区创业园发展中心与西安芯派电子有限公司将联合举办“高可靠性功率器件及系统的测试与保障”研讨会。邀请同行业企业、科研院所同行朋友共同参加。同期西安半导体功率器件应用测试中心将正式开业。
背景材料：
西安半导体功率器件应用测试中心开业仪式将同期举行。是为半导体行业企业提供芯片测试到系统老化及失效分析的整个环节服务的专门机构。试验测试范围包括4’、6’、8’晶圆参数测试，功率器件参数测试，电子元器件可靠性测试、电子元器件的失效分析，以及开关电源功能测试、老化实验、传导辐射干扰、静电放电、雷击浪涌和安规检测等。
测试中心拥有先进的设施设备100余台，其中多台为西北地区首家使用，其中美国qualmark振动台，德国富奇新型高低温冲击箱等可靠性测试设备均为半导体行业首家使用。
研讨会主题：
1、半导体功率器件测试技术的发展以及市场分析、技术应用和系统解决方案等相关主题进行深入交流和探讨。
2、新型半导体功率器件测试行业技术标准、IC的设计、制造、封装技术等。
现热忱欢迎有志于功率器件研究与发展的朋友们，与我们一起用我们敏锐的双眼，勤劳的双手和聪慧的大脑，去探索功率器件世界的无穷奥秘。
地点：香格里拉酒店2楼西安厅
时间：2011年11月16日8:30
报名联系人：全静 联系电话：88251977-8002
参会嘉宾：
STI公司总裁Brandon Bailey先生
美国ITC公司技术开发总监David J. Lohr先生
美国KYDD CONSULTING公司总裁Douglas Lamond先生
美国Qualmark总裁Andy Drenick先生
国内著名的半导体企业、半导体行业协会以及行业专家。
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